免费下载 IEC 60068-2-82:2019 《环境测试 第2-82部分:试验 Xw1:电子组件中使用的元器件和部件的晶须测试方法》(适用于广东韦斯恒温恒湿试验箱)
发布时间:2026-02-02 浏览:1

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  一、标准概述

IEC 60068-2-82:2019 是国际电工委员会(IEC)发布的一项重要环境测试标准,全称为《环境测试 第2-82部分:试验 Xw1:电子组件中使用的元器件和部件的晶须测试方法》。该标准于2019年发布,替代了2007年的第一版,属于一次重要的技术修订。

晶须是指电子元器件表面(特别是锡或锡合金镀层)在存储或使用过程中自发生长的金属细丝状突起。它们可能引起电路短路、电弧放电等故障,严重影响电子设备的可靠性。该标准旨在提供一套科学、系统的测试方法,评估电子元器件表面镀层的晶须生长倾向,从而指导生产、选用和质量控制。

二、适用范围

该标准适用于评估以下两大类产品表面镀层(锡或锡合金)的晶须生长倾向:

  1. 电子或机电组件:如电阻、电容、集成电路等。

  2. 机械部件:如冲压/冲裁件(跳线、静电放电保护屏蔽罩、机械固定件)、压接引脚,以及其他用于电子组装的机械零件。

重要说明

  • 标准关注的是成品阶段的部件。

  • 连接器的配合区域不适用本标准,应参照 IEC 60512-16-21

  • 该标准也可用于供应链中的子供应商(如电镀厂、冲压厂),以确保表面质量的一致性。

三、试验条件与所需仪器——恒温恒湿试验箱-广东韦斯实验设备有限公司-韦斯实验

标准规定了三种主要的加速测试条件,以模拟不同环境应力对晶须生长的诱发作用:

测试类型核心条件主要目的所需关键设备
环境测试温度:25±10°C,湿度:50±25%,持续4000小时评估在常温常湿长期存储下的晶须生长。干燥器或可控温湿度的试验箱
湿热测试条件1(更严酷):85±3°C,85±5% RH,1000小时
条件2:55±3°C,85±5% RH,2000或4000小时
评估在高湿度、温度应力下的晶须生长。条件1适用于高性能/严苛环境(如汽车电子)的新认证。湿度室,需符合 IEC 60068-2-78 要求
温度循环测试例如:-40°C ↔ +85°C,循环1500次评估因材料间热膨胀系数不匹配引起的机械应力所导致的晶须生长。热循环试验箱,需符合 IEC 60068-2-14 要求

选择指南:并非所有产品都需要进行全部测试。标准采用基于知识的方法,根据材料体系(如基材、镀层、底层)来判断可省略的测试项目(参见标准中的表1和附录D)。例如,若热膨胀系数失配(ΔCTE)小于8×10⁻⁶/K,可省略温度循环测试。

四、恢复条件

在测试过程中任何中间检查点或测试结束后,样品必须进行恢复处理:

  • 环境:置于IEC 60068-1定义的标准大气条件下(通常为温度15-35°C,湿度25-75%)。

  • 时间:至少2小时

  • 操作要求:必须极其小心地处理样品,避免晶须因触碰而断裂或脱落。如果发生脱落,必须在报告中记录。

五、试验过程与核心要求

  1. 样品准备

    • 代表性与存储:样品必须是交付给客户的最终产品。电镀后,测试前需在供应链中存储(预老化)30至120天。

    • 预处理:根据产品的组装工艺(如焊接、压接、机械弯曲)进行相应的预处理(如热冲击、弯曲成型、插入PCB孔),以模拟实际应用中的应力。

  2. 样品数量

    • 标准对不同类型的组件规定了最低样品数量(如,对于引脚数<4的组件,需40个组件的所有引脚;对于机械部件,至少10个零件等)。

  3. 测试与监测

    • 将预处理后的样品放入对应的测试设备中,运行规定的测试周期。

    • 测试中严禁冷凝水滴落到样品上。

  4. 晶须检查与评估

    • 固定阈值法:在相关规范中规定一个失效长度阈值(如50μm),超过则判定失败。

    • 统计评估法:测量所有晶须长度,绘制分布直方图,进行统计分析(通常符合对数正态分布),计算超过某长度的概率。

    • 设备:优先使用扫描电子显微镜,也可使用光学显微镜或共焦激光显微镜。需使用能多角度倾斜的固定夹具

    • 检查范围:必须检查测试批次的所有部件的整个可见表面,包括腐蚀区域。

    • 长度测量:测量晶须从表面到最远点的直线距离(参见标准附录A)。晶须必须满足长径比>2且长度≥10μm才被计入。

    • 判定方法

  5. 接收准则建议(参见附录C):

    • 压接应用:晶须长度达到Class 4(≥200μm) 通常判定为失败。

    • 其他所有应用:晶须长度达到Class 1(≥25μm) 通常判定为失败。

    • 晶须密度(单位面积数量)与风险无明确关联,不建议作为接收准则。

六、设备要求汇总

设备类型具体要求
环境测试设备能维持25±10°C,50±25% RH条件的干燥器或试验箱。
湿热试验箱符合IEC 60068-2-78,能精确控制温度和湿度,防止冷凝水滴滴落。
热循环试验箱符合IEC 60068-2-14,能实现快速温度转换(<20秒)和规定驻留时间。
检测设备SEM:高景深,建议带倾斜/旋转台。
光学显微镜:立体显微镜用于观测(≥50倍),测量用显微镜(≥200倍),配备多角度照明(如环形光)。
共焦激光显微镜:可作为备选。
固定夹具能在各方向倾斜至少45°,并能将样品牢固固定。

七、其他重要注意事项

  1. 技术或工艺变更:基材、镀层合金成分、镀层厚度、电镀工艺、生产地点等发生重大变化时,应视为新的认证,需要重新测试。

  2. 监测:供应商应建立监控体系,定期(如每6个月)对已认证的表面处理工艺进行抽样测试,并与初始结果对比,趋势恶化时需采取纠正措施。

  3. 技术相似性:设计、材料和制造工艺完全相同的产品,可被视为“技术相似”,从而简化认证范围。但基材成分、镀层工艺、生产地点等关键因素不同时,不能认定为相似。

  4. 最终报告:测试报告必须详尽,包含样品信息、预处理参数、测试条件、检测方法、所有观察到的晶须数据(长度、等级、照片)、相似性证明(如适用)以及明确的合格/不合格判定。报告是供应链可追溯性和持续改进的关键。

  5. 样品留存:测试后的样品应至少保留三年,以备复查。


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